测试问题排查方法、装置、电子设备和介质

摘要

本公开提供了一种由电子设备执行的测试问题排查方法，包括：获取待排查通知报文的排查信息；根据所述排查信息，确定所述待排查通知报文的排查点记录集和配置信息，所述排查点记录集包括多个排查点；确定对所述多个排查点进行排查的最短路径；根据所述配置信息，按照所述最短路径对所述多个排查点进行排查，以获取所述多个排查点的测试结果；以及输出所述测试结果。本公开还提供了一种测试问题排查装置、电子设备和介质。