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质控/校准测试方法、样本分析仪及计算机可读存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种质控/校准测试方法、一种样本分析仪及一种计算机可读存储介质,样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓,在该试剂仓内还设有质控/校准品保存位,该质控/校准测试方法包括:获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令;获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息;根据特征信息和位置信息,控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品;利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

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    法律状态

  • 2022-05-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N35/00 专利申请号:2019102779041 申请日:20190408

    实质审查的生效

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