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一种基于上基准玉米植株高和穗高测量装置

摘要

一种基于上基准的玉米植株高和穗高测量装置,由激光基准面装置和手持测量杆组成,包括三脚架、中空可伸缩连接杆、激光发射云台、株高测量架、定滑轮、光栅、滑动支座、拉线、手持杆、穗高测量尺、电机、圆形气泡水平仪、转换开关、设备安装平台。本发明通过激光发射云台在水平360°方向上连续发射激光,确定上基准面位置,电机通过转换开关分别将株高测量架和穗高测量杆调节到与玉米植株高和穗高齐平的位置,根据上基准位置与株高测量架和穗高测量尺的位置,能计算出玉米植株高和穗高。本发明测量基准统一,测量精度高,可支持多个测量杆同时测量,测量效率高,可快速完成基准面激光有效覆盖范围内的玉米植株高和穗高测量。

著录项

  • 公开/公告号CN111780676A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 隗海林;

    申请/专利号CN202010786531.3

  • 发明设计人 隗海林;王楠;郝国君;李顾勇;

    申请日2020-08-07

  • 分类号G01B11/06(20060101);G01B11/02(20060101);

  • 代理机构22103 长春市四环专利事务所(普通合伙);

  • 代理人张建成

  • 地址 130000 吉林省长春市南关区南岭街道育工路委123组

  • 入库时间 2023-06-19 08:36:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-25

    授权

    发明专利权授予

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