一种双轴跟瞄转台跟踪精度测试方法

摘要

本发明专利涉及一种双轴跟瞄转台跟踪精度测试方法，属于光电检测领域。通过S1固定双轴跟瞄转台于平台，使转台上的相机正面朝向背景墙；S2固定定焦摄像机于转台俯仰框架，使得摄像机同相机始终同时运动；S3开启转台，等待目标进入视场，开启摄像机，进行图像保存；S4将目标模拟物在背景墙前进行往复运动；S5对摄像机记录图像进行逐帧处理，计算跟瞄精度的方式，本发明能够避免转台上相机图像处理板因存储视频占用大量资源而影响目标检测速度的问题，引入摄像机进行跟踪结果拍摄，相比于室外靶机检测法，不仅可以实现定性检测，而且可以实现精确的定量检测，并降低检测成本，提高检测效率和精度。