首页> 中国专利> 基于RTK的测量方法、RTK测量系统

基于RTK的测量方法、RTK测量系统

摘要

本发明提供一种基于RTK的测量方法、RTK测量系统,该测量方法包括:S101:获取被测点,根据被测点选择至少三个测量点,其中,至少一个测量点不位于被测点与其他测量点形成的平面上;S102:获取RTK位于测量点时可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到被测点的距离;S103:根据坐标和距离获取被测点的坐标。本发明通过RTK、可见光测距模块测量至少三个测量点的坐标以及测量点到被测点的距离,根据该坐标和距离获取被测点的坐标,无需接触被测点,保护了用户和设备的安全,且不需要其他设备进行测量,提高了测量效率,节省了工作量,实现了对测量点的测量,消除了测量的盲区。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号