一种预估器件空间在轨低能质子单粒子翻转率的方法

摘要

本发明公开了一种预估器件空间在轨低能质子单粒子翻转率的方法，所述方法包括：对70MeV准单能质子降能，测试垂直入射条件下器件单粒子翻转峰值截面；在最劣方位角时，测试质子在一个或多个倾角入射时的SEU峰值截面；分别计算不同入射角度下能量小于3MeV的质子引发的SEU截面；计算质子入射每个角度区间的概率；将计算的不同入射角度时能量小于3MeV的质子SEU峰值截面分别乘以对应角度区间的质子入射概率并求和；计算空间轨道环境下，设定在轨时间内能量小于3MeV的全空间质子积分注量；将求和后的SEU峰值截面乘以能量小于3MeV的质子积分注量，即可获得器件空间在轨低能质子单粒子翻转率。