公开/公告号CN111624162A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-04
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;
申请/专利号CN202010623585.8
申请日2020-07-01
分类号G01N21/25(20060101);G01J3/42(20060101);G01J3/02(20060101);G01J9/00(20060101);
代理机构31311 上海沪慧律师事务所;
代理人郭英
地址 200083 上海市虹口区玉田路500号
入库时间 2023-06-19 08:11:16
机译: 显微测光系统的反射光测量方法和反射光测量装置
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