液晶面板的mura缺陷检测方法、装置、存储介质及终端

摘要

本发明涉及液晶面板检测领域，具体涉及一种液晶面板的mura缺陷检测方法、装置、存储介质及终端，所述方法包括：采集液晶面板的良品图像数据，对所述良品图像数据加入若干种不同缺陷类型的干扰数据，生成缺陷图像数据；将所述缺陷图像数据、良品图像数据及干扰数据作为训练样本及验证样本；搭建卷积神经网络U‑Net分割模型，利用所述训练样本及验证样本训练所述卷积神经网络U‑Net分割模型，得到mura检测模型；根据所述mura检测模型对液晶面板进行检测，确定所述液晶面板的mura缺陷类型。本发明能够快速地收集训练样本，提高模型的抗干扰能力以及快速准确地检测液晶面板的mura缺陷类型。