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一种基于PXIe总线的集成电路测试系统

摘要

本发明公开了一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,包括机台背板、系统电源、接口板和测试基板,机台背板上集成有功能测试模块,接口板对内实现与各功能测试模块的数据通信,对外通过PXIe总线实现与主控模块的通信;接口板包括输入输出接口模块、信号产生模块、信号路由模块和PCI接口模块,输入输出接口模块通过信号产生模块与信号路由模块和机台背板连接,信号路由模块通过PCI接口模块或者直接与机台背板连接;信号产生模块包括背板时钟控制单元、板载时钟及校准单元和时钟生成单元,板载时钟及校准单元包括锁相环和恒温振荡器。本发明所公开的测试系统测试效率高,可保证测试模块之间的同步性,可提供可靠的时钟出发及同步信号。

著录项

  • 公开/公告号CN112067979A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中电科仪器仪表有限公司;

    申请/专利号CN202010964118.1

  • 申请日2020-09-15

  • 分类号G01R31/317(20060101);

  • 代理机构37247 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘娜

  • 地址 266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 08:06:35

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