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一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法

摘要

本发明公开了一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法,所述T/R自动测试系统校准套件包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块,所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头,通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。本发明可很大程度的提升T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率,可满足在大规模T/R阵列自动测试系统中的校准要求。此外,区别于目前矢量网络分析仪厂商提供的高精密校准工具箱,对加工工艺有极大要求,本发明所需标准件的加工工艺能满足一般的工程化实现。

著录项

  • 公开/公告号CN111896925A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都爱科特科技发展有限公司;

    申请/专利号CN202010974119.4

  • 发明设计人 韩周安;彭安虎;彭毅;

    申请日2020-09-16

  • 分类号G01S7/40(20060101);

  • 代理机构51218 成都金英专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人袁英

  • 地址 610000 四川省成都市青羊区敬业路218号28栋

  • 入库时间 2023-06-19 08:00:20

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