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一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法

摘要

本发明提供一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法,包括以下步骤:S1:准备数据集,对数据集中的图像待进行标注,按一定的比例将已标注的图像分为训练集和验证集;S2:构建深度学习神经网络架构,采用训练集对深度学习神经网络架构进行训练,采用验证集数据验证深度学习神经网络架构性能,然后将训练好的深度学习神经网络架构和参数进行储存;S3:利用步骤S2得到的深度学习神经网络架构对待分析图像进行语义分割;S4:针对处理后的语义分割图像中颗粒的直径进行直方图统计,将直方图作为纳米颗粒粒径分析的结果。本发明解决了现有技术中利用人工标记与测量TEM图像中纳米颗粒直径,费时耗力且不准确的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111899274A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连交通大学;

    申请/专利号CN202010778762.X

  • 发明设计人 刘淑慧;刘伟;

    申请日2020-08-05

  • 分类号G06T7/194(20170101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构21212 大连东方专利代理有限责任公司;

  • 代理人王思宇;李洪福

  • 地址 116028 辽宁省大连市沙河口区黄河路794号

  • 入库时间 2023-06-19 08:00:20

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