首页> 中国专利> 一种基于Frechet距离的放射源活度监测方法

一种基于Frechet距离的放射源活度监测方法

摘要

本发明公开一种基于Frechet距离的放射源活度监测方法,通过对放射源的实测活度值进行采集,建立源数据,自适应产生理论活度衰变曲线,从而通过比较分析理论活度衰变曲线与实测转换后的活度衰变曲线的相似度,来实现对放射源活度监测,把控性更强,解决针对某种特定放射源检测并提高准确度的问题,从而投入实际的监测工作中,监测放射源是否被移动或者调换,十分的便捷。同时对监测系统的数据进行不断的调试,提高监测的精确度。并且需要监测不同的放射源时,只用自定义输入不同放射源的相关参数即可,不需要再重新构建监测网络,因此能具有灵活性和可移植性。

著录项

  • 公开/公告号CN111896990A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都理工大学;

    申请/专利号CN202010662140.0

  • 发明设计人 刘明哲;黄瑶;刘祥和;罗锐;

    申请日2020-07-10

  • 分类号G01T1/16(20060101);G01T7/12(20060101);G06F17/11(20060101);

  • 代理机构51239 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人杨佳丽

  • 地址 610000 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号

  • 入库时间 2023-06-19 08:00:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-24

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号