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基于激光频率扫描干涉测距的三维测量系统

摘要

本发明公开了基于激光频率扫描干涉测距的三维测量系统。基于脉冲法和相位法激光测距原理的三维测量系统精度较低。本发明通过扩束镜将经过偏振的激光扩束并照射在待测区域,激光将在目标物体表面发生漫反射,产生的回波光被接收镜头接收后进入偏振分光镜,与偏振参考光发生差频干涉;干涉信号被光电探测器阵列接收;通过测得在激光器一次扫描周期中探测到的干涉条纹数以及由FP谐振腔测得激光器的频率扫描范围,根据激光频率扫描干涉测距公式计算得到光电探测器阵列各个像素点的距离信息;结合APD阵列的单个像素点尺寸以及放大倍率得到目标待测范围各点的实际二维坐标,然后结合距离数据,实现激光三维测量。本发明测距精度高,系统稳定性好。

著录项

  • 公开/公告号CN108931784A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201810647627.4

  • 发明设计人 郑磊珏;时光;王文;

    申请日2018-06-22

  • 分类号G01S17/42(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄前泽

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2023-06-19 07:34:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S17/42 申请日:20180622

    实质审查的生效

  • 2018-12-04

    公开

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