法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-12-18
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/41 申请日:20170512
实质审查的生效
2018-11-23
公开
公开
机译: 双干涉仪测量系统,包括由折射率变化引起的波长校正
机译: 折射率分布测量方法,装置及其光学元件的制造方法,使用浸没在至少一种折射率与测试对象的折射率不同的介质中的测试对象的多个透射波前和参考的多个参考透射波前具有已知形状和折射率分布的物体
机译: 一种用于测量光学常数,特别是波长和折射率的光学常数的方法