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使用性能计数器及跟踪逻辑的性能分析

摘要

用于分析处理系统的性能的系统及方法是基于位于所述处理系统的选定节点处的跟踪点中所提供的性能计数器。如果在第一跟踪点处通过性能计数器检测事务超过阈值次数,那么在所述第一跟踪点处将待监测的第一事务识别为待监测的事务。第一跟踪标记识别符在所述第一跟踪点处与所述第一事务相关联。基于所述第一跟踪标记识别符在一或多个其它跟踪点处识别所述第一事务。基于在所述跟踪点处识别所述第一事务的时戳,从各种跟踪点获得例如所述第一事务的跟踪信息、时延、消耗装置的位置等信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108885578A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高通股份有限公司;

    申请/专利号CN201780017205.2

  • 发明设计人 S·T·巴特曼斯;Z·扎伊迪;

    申请日2017-03-03

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人杨林勳

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 07:21:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/34 申请日:20170303

    实质审查的生效

  • 2018-11-23

    公开

    公开

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