公开/公告号CN108847381A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-11-20
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司;
申请/专利号CN201810545832.X
申请日2018-05-25
分类号H01J37/32(20060101);
代理机构44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙);
代理人黄威
地址 518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
入库时间 2023-06-19 07:15:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-12-14
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20180525
实质审查的生效
2018-11-20
公开
公开
机译: 用于液晶显示制造或半导体电路制造中的光刻后的基板测试的基板测试系统,基板测试方法和基板测试装置
机译: 彩色滤光片及其制造方法,用于彩色滤光片的液滴材料点蚀精度测试基板及其制造方法,发光基板及其制造方法,用于发光基板的液滴材料点蚀精度测试基板及其制造方法基板,液滴材料点滴精密电光装置的测定方法,电子设备以及成膜方法和装置
机译: 测试精度和控制简化的基板测试装置以及使用该基板测试装置的基板测试方法