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测试基板及延长测试基板使用寿命的方法

摘要

本发明提供一种测试基板,用于在干刻蚀制程中被进行刻蚀模拟,测试基板包括:玻璃基板,以及制备于玻璃基板表面的刻蚀层,刻蚀层用于被干刻设备刻蚀形成图案,且阻挡刻蚀力作用于玻璃基板表面;有益效果为:本发明提供的测试基板,在基板表面制备刻蚀层,用于被干刻设备刻蚀形成图案,且阻挡刻蚀力作用于基板表面,保护基板表面不被雾化,进而延长基板使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN108847381A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810545832.X

  • 发明设计人 张正洋;张越强;

    申请日2018-05-25

  • 分类号H01J37/32(20060101);

  • 代理机构44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人黄威

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号

  • 入库时间 2023-06-19 07:15:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20180525

    实质审查的生效

  • 2018-11-20

    公开

    公开

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