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使用旋转光束激光刻划工艺及等离子体蚀刻工艺的混合式晶片切割方法

摘要

描述了切割半导体晶片的方法,每个晶片具有多个集成电路。在一示例中,一种切割具有多个集成电路的半导体晶片的方法涉及:在该半导体晶片上方形成掩模,该掩模由覆盖且保护集成电路的一层组成。接着利用旋转激光光束激光刻划工艺图案化该掩模,以提供具有间隙的经图案化掩模,暴露该半导体晶片的集成电路之间的区域。接着穿过该经图案化掩模中的间隙等离子体蚀刻该半导体晶片以将集成电路切单。

著录项

  • 公开/公告号CN108780778A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201780019350.4

  • 申请日2017-03-23

  • 分类号H01L21/78(20060101);H01L21/76(20060101);H01L21/268(20060101);H01L21/3065(20060101);H01L21/67(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人汪骏飞;侯颖媖

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 07:08:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/78 申请日:20170323

    实质审查的生效

  • 2018-11-09

    公开

    公开

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