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一种提高半绝缘磷化铟单晶片电阻率均匀性的方法

摘要

一种提高半绝缘磷化铟单晶电阻率均匀性的方法,包括如下步骤:对半绝缘磷化铟单晶进行表面处理;选取与半绝缘磷化铟单晶的尺寸匹配的石英管,进行清洗烘干待用;将半绝缘磷化铟单晶放入该石英管内,并放入一定量的高纯铁粉和红磷;对装有半绝缘磷化铟单晶及高纯铁粉和红磷的石英管进行抽真空,然后封口;将装有半绝缘磷化铟单晶及高纯铁粉和红磷的石英管放入高温炉内,在磷化铁气氛下高温退火。本发明提供的这种提高半绝缘InP单晶片电阻率均匀性的方法,提高了半绝缘InP晶片的质量和电阻的均匀性,半绝缘InP晶片具有更好地电学性质,更有利于光电子器件的应用。

著录项

  • 公开/公告号CN108486658A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京鼎泰芯源科技发展有限公司;

    申请/专利号CN201810149630.3

  • 发明设计人 谢辉;赵有文;董志远;刘京明;

    申请日2018-02-13

  • 分类号C30B33/02(20060101);C30B29/40(20060101);

  • 代理机构11327 北京鸿元知识产权代理有限公司;

  • 代理人李琳;李玉琦

  • 地址 100080 北京市海淀区海淀大街3号楼B座10层340

  • 入库时间 2023-06-19 06:21:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-23

    专利申请权的转移 IPC(主分类):C30B33/02 登记生效日:20180929 变更前: 变更后: 申请日:20180213

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B33/02 申请日:20180213

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

    公开

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