一种基于原子力显微镜测试集料表面粗糙度的方法

摘要

本发明涉及一种基于原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）测试集料表面粗糙度的测试方法。包括如下步骤：1）制备集料试件。2）利用AFM中的轻敲（Tapping）模式对集料表面粗糙度进行测试。3）将测试所得到的三维坐标信息通过Nanoscape Analysis导出。4）对集料表面粗糙度的轮廓算数平均偏差Ra进行有效性验证。5）采用SPSS软件中的独立样本t检验集料表面粗糙度的区分性。本发明为一种基于AFM镜测试集料表面粗糙度的方法，AFM作为纳米科技研究中的主要工具，应用在新一代微电子芯片、光学系统、新材料以及生物工程等领域，采用AFM技术测试集料表面粗糙度的研究目前相对较少，对集料表面粗糙度的分析十分有限，而对于在集料表面粗糙度的研究，研究者大部分采用的是分形理论。