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机译:一种标准用于使用计量原子力显微镜测量表面粗糙度测量中的探针尖端直径评价
Natl Inst Adv Ind Sci &
Technol AIST Tsukuba Cent 3 1-1-1 Umezono Tsukuba Ibaraki 3058563 Japan;
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AFM; profile surface roughness; standard plate; metrology;
机译:一种标准用于使用计量原子力显微镜测量表面粗糙度测量中的探针尖端直径评价
机译:使用计量原子力显微镜测量纳米计量学中的显微镜校准标准
机译:原子力显微镜对CR-39的跟踪灵敏度和表面粗糙度测量
机译:使用计量原子力显微镜和不确定度评价谱表面粗糙度测量
机译:使用原子力显微镜测量微米级颗粒与平坦表面之间的相互作用力。
机译:使用原子力显微镜与健康牙釉质相比评估荧光牙釉质的外表面结构粗糙度和绝对深度曲线:体外研究
机译:用计量倾斜原子力显微镜测定垂直侧壁上的线边缘粗糙度测量