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利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法

摘要

本发明是利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法。利用空间中的一条直线作为靶标,首先,用锥镜面折反射摄像机从不同的位置拍摄2幅含有一条直线的图像,分别从2幅图像中提取靶标图像边缘点,得到2幅图像的对应特征点。在对应特征点的上,根据反射投影模型获得直线在锥镜面上的投影点,从而确定两幅图像之间的本质矩阵。其次,由本质矩阵性质构造一个目标函数。最后,利用粒子优化算法最小化目标函数,从而得到锥镜面折反射摄像机内参数。

著录项

  • 公开/公告号CN108346164A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 云南大学;

    申请/专利号CN201810017194.4

  • 发明设计人 赵越;杨丰澧;汪雪纯;

    申请日2018-01-09

  • 分类号G06T7/80(20170101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 650504 云南省昆明市呈贡新区大学城云南大学

  • 入库时间 2023-06-19 06:30:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-31

    公开

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