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用于形成取代金属栅极的方法及相关装置

摘要

本发明涉及用于形成取代金属栅极的方法及相关装置,其提供一种方法用以在RMG加工期间排除线空穴及所得装置。数个具体实施例包括形成虚拟栅极于一衬底的PFET区及NFET区上面,各个虚拟栅极有在相对两侧的间隔体,以及填充在间隔体之间的空间的一ILD;移除所述栅极的虚拟栅极材料,形成一空腔于每一对间隔体之间;形成一高k介电层于该ILD及所述间隔体上面且于所述空腔中;形成一金属覆盖层于该高k介电层上面;形成一第一功函数金属层于该金属覆盖层上面;移除该PFET区的该第一功函数金属层;形成一第二功函数金属层于在该PFET区中的该金属覆盖层上面及于在该NFET区中的该第一功函数金属层上面;以及形成一金属层于该第二功函数金属层上面,填充所述空腔。

著录项

  • 公开/公告号CN108281385A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格芯公司;

    申请/专利号CN201711473091.0

  • 发明设计人 吴旭升;王海艇;

    申请日2017-12-29

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2023-06-19 05:55:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/8238 申请日:20171229

    实质审查的生效

  • 2018-07-13

    公开

    公开

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