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版图的仿真图像和硅片SEM图像自动匹配的方法

摘要

本发明公开了一种版图的仿真图像和硅片SEM图像自动匹配的方法,包括如下步骤:步骤1、提取SEM图像中硅片版图的内轮廓图像;步骤2、从硅片版图的内轮廓图像提取模板图像;步骤3、使用模板匹配算法将模板图像分别与版图的仿真图像匹配,选出最佳匹配的模板图像以及与它对应的旋转角度、放大或缩小倍数、模板中心在版图的仿真图像上的匹配坐标。本发明能够自动实现版图的仿真图像和硅片SEM图像的匹配。

著录项

  • 公开/公告号CN108257166A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201810024871.5

  • 发明设计人 伍思昕;金晓亮;袁春雨;冯佳计;

    申请日2018-01-11

  • 分类号G06T7/33(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/155(20170101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人戴广志

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-06-19 05:49:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/33 申请日:20180111

    实质审查的生效

  • 2018-07-06

    公开

    公开

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