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20W亚微米级三维X射线实时成像检测系统和检测方法

摘要

本发明涉及电子元器件检测技术领域,公开了20W亚微米级三维X射线实时成像检测系统和检测方法,包括:X射线防护框架组件、电脑显示器、电气控制面板、主门、装载门、伺服运动控制组件、同步气浮减震自平衡装置、X射线影像装置、X射线管、高压导联装置和主板,电脑显示器、电气控制面板、同步气浮减震自平衡装置安装在X射线防护框架组件上;装载门安装在主门上;伺服运动控制组件安装于同步气浮减震自平衡装置上;X射线影像装置安装于伺服运动控制组件上。本发明获得三维成像,通过伺服运动控制组件,实现了360°全方位的检测,并通过同步气浮减震自平衡装置作为支撑装置,用来提供平稳的支撑,具有调节同步、平衡性好的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN108181329A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 达格测试设备(苏州)有限公司;

    申请/专利号CN201711438889.1

  • 发明设计人 张斌;

    申请日2017-12-26

  • 分类号

  • 代理机构广州市红荔专利代理有限公司;

  • 代理人关家强

  • 地址 215151 江苏省苏州市高新区建林路666号出口配套工业园7栋

  • 入库时间 2023-06-19 05:42:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20171226

    实质审查的生效

  • 2018-06-19

    公开

    公开

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