首页> 中国专利> 基于二代测序技术检测X-STR基因座的试剂盒及其专用引物组合

基于二代测序技术检测X-STR基因座的试剂盒及其专用引物组合

摘要

本发明公开了基于二代测序技术检测X‑STR基因座的试剂盒及其专用引物组合。本发明提供的引物组合,由序列表中序列1至序列32所示的32种DNA分子组成。实验证明,采用本发明提供的基于二代测序技术检测X‑STR基因座的试剂盒检测女性口腔上皮细胞的基因组DNA中16个X‑STR基因座的STR分型,分型结果准确。本发明提供的试剂盒具有重要的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN108179199A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 公安部物证鉴定中心;

    申请/专利号CN201810168413.9

  • 申请日2018-02-28

  • 分类号C12Q1/6888(20180101);C12Q1/6869(20180101);C12N15/11(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人关畅

  • 地址 100038 北京市西城区木樨地南里17号

  • 入库时间 2023-06-19 05:41:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):C12Q1/6888 申请日:20180228

    实质审查的生效

  • 2018-06-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号