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基于双闪耀面中阶梯光栅的双光路分光检测系统

摘要

本发明涉及一种基于双闪耀面中阶梯光栅的双光路分光检测系统,设计一种具有双闪耀面的中阶梯光栅,当一束平行光以某个入射角入射时,经两闪耀面衍射的衍射主极大方向也不同,在这两个方向上的不同级次,不同衍射波长为中阶梯光栅衍射中心波长,因此就有两组中心波长,一般情况下它们的级次与波长不相同,分别由入射角,两个闪耀角以及中阶梯光栅参数决定。两个方向上的衍射光再经两个聚焦镜,分别聚焦在两个线阵或面阵CCD探测器上,能够同时采集到以两组中心波长为对称中心的,衍射能量分布覆盖区域内具有不同级次,不同波长的光谱信息,实现对两组光谱信息的同时检测,拓宽了检测光谱范围。

著录项

  • 公开/公告号CN108195467A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201711375334.7

  • 申请日2017-12-19

  • 分类号G01J3/28(20060101);G01J3/18(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根;徐颖

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2023-06-19 05:39:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20171219

    实质审查的生效

  • 2018-06-22

    公开

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