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公开/公告号CN108140418A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 德州仪器公司;
申请/专利号CN201680061176.5
发明设计人 R·梅赫罗特拉;N·纳雷什;P·纳拉亚南;V·萨卡尔;
申请日2016-10-31
分类号G11C29/12(20060101);G06F11/27(20060101);
代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;
代理人林斯凯
地址 美国德克萨斯州
入库时间 2023-06-19 05:35:28
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-09-11
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/12 申请日:20161031
实质审查的生效
2018-06-08
公开
机译: 用于嵌入式存储器的区域高效并行测试数据路径
机译: 嵌入式存储器的区域有效并行测试数据路径
机译: 嵌入式存储器的有效区域并行测试数据路径
机译:用于嵌入式存储器的高效BIRA,具有高修复率和低面积开销
机译:具有嵌入式存储器阵列的FPGA中用于减少面积的异构技术映射
机译:具有逻辑折叠功能的数据路径展开功能,用于基于FPGA的面积节省时间的FAST拐角检测器
机译:利用二维冗余度,以最佳修复率对嵌入式存储器进行面积有效的内置冗余度分析
机译:有源钳位电路技术,用于面积有效的集成功率晶体管,用于开关电感负载。
机译:具有高(001)结构的p型WSe2薄膜作为有效的大面积光电阴极可用于太阳能制氢
机译:电源和面积有效的近似携带跳过加法器,用于错误弹性应用
机译:面积有效的图形布局(用于VLsI)