一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案

摘要

工艺尺寸进入纳米工艺后，数字电路的可靠性面临高能粒子效应、延时故障、器件老化等方面的威胁．提高可靠性，同时也面临着面积、延时、功耗等方面的挑战．针对高能粒子瞬时效应中影响组合逻辑电路的单事件瞬态(SET)，本文提出一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案．ISCAS-89标准电路在45nm Nangate工艺下的实验证明，该方案平均增加11．14％-44．74％的面积开销，可达到50％-99%的可靠性．