一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法

摘要

本发明提供了一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法，涉及鉴定方法领域。该方法包括：取瓷松的真品制得标准样品，采用X射线荧光能谱法分析标准样品，得到瓷松中化学元素的类别和含量；取多个瓷松真品进行X射线荧光能谱法分析，得到瓷松的化学元素数据，建立瓷松的标准指纹图谱；取待测绿松石制样得待测样品，采用X射线荧光能谱法分析待测样品，获得待测样品的X射线荧光能谱，再与标准指纹图谱进行比对。这种方法能够通过测定化学元素的特征X射线谱线的波长和强度，对瓷松的化学组成进行定性和定量分析，方法灵敏度高，可有效鉴别瓷松的真伪、优劣。