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一种基于CCD相干因子检测装置的最佳像面调校方法

摘要

本发明提供了一种基于CCD相干因子检测装置的最佳成像面调校方法,该检测装置用于检测光学投影曝光光刻系统中透镜轴向CCD离焦情况,包括激光器、平面反射镜、透镜、CCD图像传感器、手动X‑Y位移平台。本发明所提最佳成像面调校方法,首先利用CCD采集激光光斑图像,根据光斑、重心能量的改变情况移动X‑Y位移平台进行粗调;其次分别建立微调评价函数和精调评价函数移动X‑Y位移平台进行微调和精调;最后实现CCD在最佳像面的校准。本发明操作简单,检测灵敏度,提高了检测效率和可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN108037643A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201711444280.5

  • 发明设计人 曹益平;

    申请日2018-03-27

  • 分类号G03F7/20(20060101);G03F9/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2023-06-19 05:18:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20180327

    实质审查的生效

  • 2018-05-15

    公开

    公开

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