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一种基于II类超晶格的横向p‑n结红外探测器及其制作方法

摘要

一种基于II类超晶格的横向p‑n结红外探测器及其制作方法,属于半导体光电器件制备技术领域。所述的红外探测器包括衬底、缓冲层、Ⅱ类超晶格及电极层。所述方法如下:将衬底放进分子束外延设备真空腔内进行处理;生长缓冲层1~2μm;在缓冲层上形成Ⅱ类超晶格;在Ⅱ类超晶格表面采用光刻胶掩膜定义p型和n型区域;向两区分别注入Be离子和Si离子到Ⅱ类超晶格中深度为500~800nm;在p型和n型区和二者中间位置溅射钛金合金,作为p型和n型接触电极及接地电极,形成横向p‑n结。本发明的优点是:材料制备相对简单,无需生长掺杂超晶格结构;在器件制备方面,不需台阶刻蚀,p型和n型电极处于同一平面,简化制作工艺和电学连线。

著录项

  • 公开/公告号CN107946400A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201711238906.7

  • 发明设计人 矫淑杰;

    申请日2017-11-30

  • 分类号H01L31/103(20060101);H01L31/036(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构23206 哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 05:05:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/103 申请日:20171130

    实质审查的生效

  • 2018-04-20

    公开

    公开

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