现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统

摘要

一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统。所述系统包括：时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元，向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同，从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同；其中：所述时钟管理器，适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率，所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率；所述待测DSP单元，适于以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述激励数据，并对所述激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器。应用上述系统，可以提高高频下测试DSP单元功能的准确性。