首页> 中国专利> 一种闭环控制系统可诊断性评价方法

一种闭环控制系统可诊断性评价方法

摘要

本发明公开了一种闭环控制系统可诊断性评价方法,包括:S1、对闭环控制系统进行类型分解,确定系统状态和系统事件集合;S2、对闭环控制系统采用自动机进行形式化模型描述得到抽象形式化模型,并判断抽象形式化模型是否是可诊断的;S3、将可诊断性指标按类型分解,并对每个类型分别建立相应的可诊断性评价模型,将所述各类型的可诊断性评价模型与步骤S2中的抽象形式化模型结合进行可诊断性评价。其优点是:通过闭环控制系统类型分解、闭环控制系统抽象形式化模型描述和闭环控制系统故障可诊断性评价三个阶段,能够有效描述闭环控制系统的动态行为,并对其进行故障可诊断性评价,具有和真实系统较高的一致性,有很高的实用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN107516169A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海航天控制技术研究所;

    申请/专利号CN201710757683.9

  • 申请日2017-08-29

  • 分类号G06Q10/06(20120101);

  • 代理机构31249 上海信好专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人潘朱慧

  • 地址 200233 上海市徐汇区宜山路710号

  • 入库时间 2023-06-19 04:06:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q10/06 申请日:20170829

    实质审查的生效

  • 2017-12-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号