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用于分析不同类型的样品的高光谱分析装置

摘要

示例实施方式可以包括配置成获取样品的信息的高光谱分析子组件。该高光谱分析子组件可包括:一个或多个发射机,其被配置成生成电磁耦接到样品的电磁辐射;一个或多个传感器,其被配置成检测电磁耦接到所述样品的电磁辐射;以及电磁透射窗口。传感器中的至少一个可被配置成经由窗口来检测来自样品的电磁辐射。该高光谱分析子组件可以包括:分析致动子组件,其被配置成在相对于样品的一个或多个移动方向上致动该高光谱分析子组件的至少一部分。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/25 申请公布日:20171208 申请日:20160126

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/25 申请日:20160126

    实质审查的生效

  • 2017-12-08

    公开

    公开

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