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HYPERSPECTRAL ANALYSIS DEVICE FOR ANALYZING DIFFERENT TYPES OF SAMPLES

机译:用于分析不同类型样品的超光谱分析装置

摘要

An example embodiment may include a hyperspectral analyzation subassembly configured to obtain information for a sample. The hyperspectral analyzation subassembly may include one or more transmitters configured to generate electromagnetic radiation electromagnetically coupled to the sample one or more sensors configured to detect electromagnetic radiation electromagnetically coupled to the sample and an electromagnetically transmissive window. At least one of the sensors may be configured to detect electromagnetic radiation from the sample via the window. The hyperspectral analyzation subassembly may include an analyzation actuation subassembly configured to actuate at least a portion of the hyperspectral analyzation subassembly in one or more directions of movement with respect to the sample.
机译:示例实施例可以包括被配置为获得样本信息的高光谱分析子组件。高光谱分析子组件可以包括一个或多个发射器,其配置为产生电磁耦合到样品的电磁辐射;一个或多个传感器,被配置为检测电磁耦合到样品的电磁辐射;以及电磁透射窗。传感器中的至少一个可以被配置为经由窗口检测来自样品的电磁辐射。高光谱分析子组件可包括分析致动子组件,该分析致动子组件被配置为在相对于样品的一个或多个运动方向上致动高光谱分析子组件的至少一部分。

著录项

  • 公开/公告号IN201747027321A

    专利类型

  • 公开/公告日2017-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN201747027321

  • 申请日2017-08-01

  • 分类号G01N21/3504;G01N21/33;G01N21/25;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 13:38:08

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