首页> 中国专利> 光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法

光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法

摘要

提供如下的光扫描装置的扫描轨迹测定装置:能够容易地减轻杂散光的影响而提高扫描轨迹的测定精度。一种光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置,通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像,其中,该光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置具有:屏幕(11),其被照明光扫描;以及光位置检测器(12),其检测屏幕(11)上的照明光的照射光点的位置,在屏幕(11)的扫描中通过光位置检测器(12)在规定的多个时间点依次检测照射光点的位置而测定照明光的扫描轨迹。

著录项

  • 公开/公告号CN107430270A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥林巴斯株式会社;

    申请/专利号CN201580077863.1

  • 发明设计人 双木满;

    申请日2015-03-25

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 03:56:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02B26/10 申请公布日:20171201 申请日:20150325

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B26/10 申请日:20150325

    实质审查的生效

  • 2017-12-01

    公开

    公开

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