通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法

摘要

本发明涉及一种通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法，包括以下步骤：1)取玻璃纤维标准品和待测玻璃纤维，再将所述玻璃纤维标准品、待测玻璃纤维分别先用混合溶剂混合搅拌均匀后，再滴加碘化氨，得到混合物，然后于10分钟内升温至1100～1300℃，再于1100～1300℃将所述混合物熔融15～25分钟成标准玻璃样片和待测玻璃样片，所述混合溶剂为四硼酸锂和偏硼酸锂的混合溶剂，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的质量比为35:65；2)再将所述标准玻璃样片和待检测玻璃样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到玻璃中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高，重复性强。