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一种扫描粒子束显微镜系统及聚焦控制方法

摘要

本发明公开了一种扫描粒子束显微镜,包括:扫描粒子束显微镜及聚焦控制系统;所述聚焦控制系统包括:两个照明成像装置,用于产生照明光束、以及传输从样品表面反射的携带聚焦图像的光束;两个反射装置,用于将对应的照明成像装置产生的照明光束反射到所述样品表面、以及将所述样品表面反射的携带聚焦图像的光束反射到所述探测装置;两个探测装置,用于接收从所述样品表面反射的携带聚焦图像的光束,并探测所述光束携带的聚焦图像;聚焦控制装置,用于对所述聚焦图像进行处理,获得所述样品的距离属性,并根据所述距离属性调节所述样品的位置参数,用以控制所述扫描粒子束显微镜的工作距离。本发明还公开了一种聚焦控制方法。

著录项

  • 公开/公告号CN107329246A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 聚束科技(北京)有限公司;

    申请/专利号CN201710594997.1

  • 发明设计人 李帅;何伟;王瑞平;

    申请日2017-07-20

  • 分类号G02B21/00(20060101);

  • 代理机构11270 北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人张颖玲;李梅香

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区永昌北路3号3幢8101-A单元

  • 入库时间 2023-06-19 03:42:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/00 申请日:20170720

    实质审查的生效

  • 2017-11-07

    公开

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