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剖面加工观察方法、剖面加工观察装置

摘要

本发明涉及剖面加工观察方法、剖面加工观察装置。在短时间内高精度地进行包含特定观察对象物的特定部位的加工,并且,迅速地生成特定观察对象物的高分辨率的三维立体像。具有:位置信息取得工序,使用光学显微镜或电子显微镜对观察对象的样品整体进行观察,取得所述样品所包含的特定观察对象物的在所述样品内的大概的三维位置坐标信息;剖面加工工序,基于所述三维位置坐标信息,朝向所述样品之中所述特定观察对象物所存在的特定部位照射聚焦离子束,使该特定部位的剖面露出;剖面像取得工序,向所述剖面照射电子束,取得包含所述特定观察对象物的规定的大小的区域的图像;以及立体像生成工序,以规定间隔沿着规定方向多次重复进行所述剖面加工工序和所述剖面像取得工序,根据所取得的多个所述剖面图像来构筑包含所述特定观察对象物的三维立体像。

著录项

  • 公开/公告号CN107230649A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本株式会社日立高新技术科学;

    申请/专利号CN201710182754.7

  • 发明设计人 满欣;上本敦;

    申请日2017-03-24

  • 分类号H01L21/66(20060101);H01J37/28(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人闫小龙;陈岚

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 03:30:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20170324

    实质审查的生效

  • 2017-10-03

    公开

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