一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法

摘要

本发明公开了一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法，包括了以下步骤：将芯片各输入输出管脚与电容相连，电容与芯片输入输出管脚相连一端称引脚，电容的另一端称电极口，芯片的电源脚和地脚通过一个电容相连；对芯片的单输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的双输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的电源脚和地脚进行静电放电测试。本发明可以更准确的锁定生产步骤中哪个环节更容易导致芯片管脚被打坏，哪种放电通路容易被打坏，查找到正确的原因，进行该放电通路的改进与强化，同时指导生产加强相应步骤的静电防护工作。