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用于制造在相邻底部电极之间具有增大的间隔的存储装置的方法

摘要

本发明的实施例描述了一种用于制造在相邻底部电极之间具有增大的间隔的存储装置的方法,所述方法包括:在基板上沉积多晶硅层;在所述多晶硅层上方沉积碳层;在所述碳层上图案化光致抗蚀剂层;在所述光致抗蚀剂层上沉积第一间隔层;以及在回蚀刻所述间隔层形成侧壁之后,在所述光致抗蚀剂层上执行修改的光刻处理。

著录项

  • 公开/公告号CN107078134A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 索尼半导体解决方案公司;

    申请/专利号CN201580056390.7

  • 发明设计人 奥野润;

    申请日2015-11-05

  • 分类号

  • 代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人姚鹏

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2023-06-19 03:07:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/10 申请日:20151105

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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