首页> 中国专利> 一种宏观检查装置及宏观检查方法

一种宏观检查装置及宏观检查方法

摘要

本发明公开了一种宏观检查装置和宏观检查方法,宏观检查装置包括:点灯模块,用于模拟点亮不含TFT侧偏光片的面板;升降模块,间隔地设于点灯模块一侧,在竖直方向上可移动,内部设有用于控制升降模块高度的操作面板;按压机构,用于接触并按压面板表面的基板,以便观察被按压后的基板表面。通过将不具有TFT侧偏光片的面板放置到点灯模块旁,并在面板对面设有升降模块,TFT侧偏光片和按压机构可随升降模块上下运动,点灯模块启动后,透过TFT侧偏光片可对基板进行宏观检查,并且通过按压机构按压基板的不同部位可有效对HVA光配向造成的配向异常侦测,避免HVA配向异常漏放至二次点灯造成大量报废,从而提升产品良率和生产线稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN106990567A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201710332912.2

  • 发明设计人 刘小成;尹凤鸣;肖松;

    申请日2017-05-12

  • 分类号G02F1/13(20060101);G02F1/1337(20060101);G01N21/88(20060101);G01N21/95(20060101);

  • 代理机构44304 深圳市铭粤知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙伟峰

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

  • 入库时间 2023-06-19 02:55:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20170512

    实质审查的生效

  • 2017-07-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号