一种高世代的新型自动宏观检查方案的研究

摘要

本文章主要研究的是一种在液晶面板成盒工艺中对于面板制成过程中产生的不良自动检出的方法以及Feedback的应用方案.该方案具体是通过高清镜头透过上下偏光板逐行扫描,通过设定周期记录不同周期扫描的图片,对比周期与周期之间图片的差异检出成盒工艺中产生的缺陷,并能够做到对进行缺陷进行自动化、精细化的管理.