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GaN高电子迁移率晶体管的氮化镓薄膜及其纳米外延过生长方法

摘要

本发明公开了GaN高电子迁移率晶体管的氮化镓薄膜的纳米外延过生长方法,包括:(1)采用MOCVD方法在Si衬底上生长AlN成核层;(2)采用MOCVD方法在AlN成核层上外延生长GaN外延层;(3)在GaN薄膜层上沉积SiO

著录项

  • 公开/公告号CN106981415A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201710259151.2

  • 发明设计人 刘智崑;李国强;李媛;

    申请日2017-04-19

  • 分类号

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗观祥

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 02:53:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20170419

    实质审查的生效

  • 2017-07-25

    公开

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