时间测试电路及时间测试方法

摘要

本发明涉及一种时间测试电路，包括电压比较器、振荡器、多个D锁存器、温度编码器和计数器。电压比较器能够输出一对上升沿陡峭的阶跃信号以作为时间开始和时间结束的内部传输信号；振荡器为包括多级门延迟单元串联构成的延迟链电路，振荡器分别与电压比较器、计数器相连接。每级门延迟单元连接一个D锁存器，电压比较器中时间结束信号输出端分别与各D锁存器的时钟信号输入端相连接，各D锁存器的信号输出端均与温度编码器的输入端相连接。时间测试电路工作，并通过公式t＝N×n×TLSB+n1×TLSB计算延迟时间t，其中N为计数器的计数值，n为延迟链中门延迟单元的总级数，TLSB为单个门延迟单元的延迟时间。该时间测试电路及时间测试方法能够减少信号在各级门延时的翻转时间并能降低功耗。