首页> 中国专利> 基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法

基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法

摘要

基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法,本发明包括偏振分束器、半波片、Wollaston棱镜、角锥反射体、成像物镜和探测器,来自目标的入射光在探测器上产生干涉,采用内置式的干涉扫描方式,由探测器获得目标的干涉图像信息,最后经过傅里叶变换光谱复原处理后得到目标的光谱信息。本发明首次将单个Wollaston棱镜和角锥反射体组合成横向剪切分束器,降低高光谱成像仪的复杂度和制造成本,并且提高系统的稳定性和复原光谱的精度。本发明提出的高光谱成像装置及方法可为低复杂度、高稳定性、轻小型化、多功能化的高光谱成像仪器提供一种有效的技术途径。

著录项

  • 公开/公告号CN106872036A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京衍射光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201510916558.9

  • 发明设计人 李建欣;

    申请日2015-12-10

  • 分类号G01J3/447;G01N21/25;G01J3/28;

  • 代理机构南京天翼专利代理有限责任公司;

  • 代理人奚铭

  • 地址 210008 江苏省南京市玄武区珠江路88号2栋1917号

  • 入库时间 2023-06-19 02:40:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01J3/447 放弃生效日:20190809 申请日:20151210

    专利权的视为放弃

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/447 申请日:20151210

    实质审查的生效

  • 2017-06-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号