一种微波材料介电常数及电调率的测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种微波材料介电常数及电调率的测试装置及方法，包括平行设置的上金属平板及下金属平板，上金属平板与下金属平板之间设有介质谐振器,所述下金属平板的两端分别设有一个由金属板围成的矩形的空腔，空腔位于下金属平板的下方，每个空腔内设有同轴馈电探针。本发明采用上述技术方案的装置及方法具有以下技术效果：该装置将同轴馈电探针内置于金属平板围成的空腔中，避免了高压电极与同轴馈电探针之间的放电效应，因此可用于测量高压偏置下材料的介电常数。