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一种测定硅铝板镀层中硅、铝含量的方法

摘要

一种测定硅铝板镀层中硅、铝含量的方法,属于金属材料检测技术领域。包括建立适用于硅铝板样品辉光表面分析方法:设置工作参数:放电参数为分析电压600~800V,分析电流20~30mA,积分时间600~1500s、校准工作曲线制作及样品处理,直径20mm≤Φd≤100mm或者连续面积大于800mm

著录项

  • 公开/公告号CN106645095A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 首钢总公司;

    申请/专利号CN201710077758.9

  • 申请日2017-02-13

  • 分类号G01N21/67;G01N1/28;

  • 代理机构北京华谊知识产权代理有限公司;

  • 代理人王普玉

  • 地址 100041 北京市石景山区石景山路68号

  • 入库时间 2023-06-19 02:03:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/67 申请公布日:20170510 申请日:20170213

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2018-10-16

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N21/67 变更前: 变更后: 申请日:20170213

    著录事项变更

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/67 申请日:20170213

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

    公开

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