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半导体元件的清洗用液体组合物、半导体元件的清洗方法及半导体元件的制造方法

摘要

本发明涉及半导体元件的清洗用液体组合物、半导体元件的清洗方法及半导体元件的制造方法,其目的在于,提供在半导体元件制造中抑制铜或铜合金、钴或钴合金的损伤、并且将氮化钛硬掩模去除的清洗用液体组合物及使用其的清洗方法、以及半导体元件的制造方法。本发明的半导体元件的制造中使用的清洗用液体组合物包含1~30质量%的过氧化氢、0.01~1质量%的氢氧化钾、0.0001~0.01质量%的氨基多亚甲基膦酸、0.0001~0.1质量%的锌盐、以及水。

著录项

  • 公开/公告号CN106601598A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱瓦斯化学株式会社;

    申请/专利号CN201610890141.4

  • 发明设计人 青山公洋;田岛恒夫;

    申请日2016-10-12

  • 分类号H01L21/027;H01L21/02;

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 02:02:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/027 申请日:20161012

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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