首页> 中国专利> 一种星敏感器光电探测器抗辐照性能的定量检测装置及方法

一种星敏感器光电探测器抗辐照性能的定量检测装置及方法

摘要

本发明涉及一种星敏感器光电探测器抗辐照性能的定量检测装置及方法,通过辐照试验系统在低剂量率的情况下使用60Co‑γ辐射源对光电探测器进行辐照试验;通过移位测试系统将辐照过的光电探测器移出辐照环境,完成图像的采集和图像参数的计算。本发明通过为探测器的正常工作提供合适的驱动时序,以可变光源提供不同的光照强度,由积分球模拟均匀光源,采用Camera link接口对探测器输出图像实时采集,采用光电参数解算单元进行光电参数的计算、辐照前后试验数据的比对,快速准确地实现对探测器抗辐照能力的定量评价。

著录项

  • 公开/公告号CN106501701A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海航天控制技术研究所;

    申请/专利号CN201610949099.9

  • 申请日2016-10-26

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构上海信好专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人尹兵;苗绘

  • 地址 200233 上海市徐汇区宜山路710号

  • 入库时间 2023-06-19 01:46:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20170315 申请日:20161026

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20161026

    实质审查的生效

  • 2017-03-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号